ジャパンシステム株式会社
所在地
- 〒192-0364
- 東京都八王子市南大沢1丁目23番10号
- TEL：042-677-1511 FAX：042-677-1512
創業
- 昭和46年3月3日
資本金
- 2,000万円
役員
- 代表取締役社長 常見真人
- 取締役 勝又千晶
- 顧問 澤田富夫
事業目的
- 電子機器、装置および電子測定器の開発製造、販売
- コンピュータシステムの開発製造、販売
- 自動検査システムの開発製造、販売
- 医療電子機器の開発製造、販売
- 計量測定装置および機器の開発製造、販売
- 精密機械装置の開発製造、販売
主要取引銀行
- りそな銀行 渋谷支店
- 三井住友銀行 渋谷駅前支店
加盟団体
- 東京商工会議所
- 公益社団法人渋谷法人会
主要納入先（敬称略）
大崎電気工業株式会社
オリエンタルモーター株式会社
株式会社 金沢村田製作所
キヤノン株式会社
上野キヤノンマテリアル株式会社
キヤノンセミコンダクターエクィップメント株式会社
キヤノン電子株式会社
キヤノンマーケティングジャパン株式会社
キヤノン化成株式会社
キヤノンファインテック株式会社
独立行政法人 国立印刷局
大日本印刷株式会社
TDK株式会社
トーカロ株式会社
東洋電装株式会社
長浜キヤノン株式会社
ファナック株式会社
株式会社 マタハリー
株式会社 村田製作所
パナソニック株式会社
パナソニックエレクトロニックデバイス株式会社
株式会社 三井造船昭島研究所
明星電気株式会社
山梨日本電気株式会社
（５０音順）
略歴
- 昭和46年3月
- 渋谷区千駄ヶ谷にて創業 資本金200万円
- 昭和52年6月
- 資本金600万円に増
- 昭和53年1月
- カラーグラフィックディスプレイ（512ｘ512）を開発
- 昭和53年3月
- 渋谷区初台（小田急西新宿ビル）に移転
- 昭和54年1月
- 超LSIテストシステムを開発
- 昭和55年3月
- バーンテストシステムを開発
- 昭和56年11月
- 資本金1000万円に増資
- 昭和57年10月
- 渋谷税務署長より優良申告法人表敬状受賞
- 昭和58年3月
- 脳波二次元表示装置（カラーEEG、CME-100）を開発 厚生省承認番号59B868号
- 昭和58年5月
- ウェーブアナライザーJSW-810Aを開発、発売
- 昭和58年10月
- 半導体（ウェハー）検査装置用コントローラーを開発
- 昭和59年6月
- 厚生大臣より医療用具製造業許可証（東用代2052号）取得
- 昭和60年2月
- 光ファイバー自動芯出し装置コントローラーを開発
- 昭和61年8月
- 渋谷区初台（日本生命初台ビル）に移転
- 昭和61年12月
- ウェーブアナライザーJSW-1605を開発、発売
- 昭和62年8月
- ウェーブアナライザーJSW-1610を開発、発売
- 平成元年10月
- 資本金2000万円に増資
- 平成2年10月
- 大容量デジタル記録装置を開発
- 平成2年11月
- 非破壊探傷装置（新素材用）を開発
- 平成3年3月
- 実験動物運動量計測装置を開発
- 平成3年10月
- ウェーブアナライザーJSW-1628を開発、発売
- 平成3年12月
- 非破壊探傷装置（半導体用）を開発
- 平成5年3月
- 画像評価装置を開発
- 平成6年11月
- 地震信号集中監視装置を開発
- 平成7年5月
- MBシステムを開発
- 平成8年6月
- 光ディスク調整検査装置を開発
- 平成9年4月
- ロボスコープRS-8010/RS-8020を開発、発売
- 平成9年11月
- 渋谷税務署長より優良申告法人再表敬状受賞
- 平成10年1月
- GPS受信装置を開発
- 平成10年3月
- 津波情報収集配信システムを開発
- 平成11年1月
- カラー画像評価装置を開発
- 平成11年9月
- 小型操船シミュレータを開発
- 平成12年5月
- 光素子位相測定システムを開発
- 平成12年10月
- SAWフィルター測定システムを開発
- 平成13年3月
- プリント基板画像評価検査機を開発
- 平成13年7月
- プラズマディスプレイ基板検査装置を開発
- 平成14年2月
- 画像データ発生装置を開発
- 平成14年8月
- 表面凹凸検査装置を開発
- 平成15年1月
- 電波検知警報装置を開発
- 平成16年6月
- MR素子テストシステムを開発
- 平成17年8月
- LCD検査装置を開発
- 平成18年6月
- 資源分離実験装置を開発
- 平成19年10月
- 印刷画像精度評価装置を開発
- 平成20年9月
- 超精密画像評価装置を開発
- 平成21年10月
- 用紙検査装置装置を開発
- 平成22年5月
- ペアリング検査装置を開発
- 平成23年8月
- 端子間距離測定装置を開発
- 平成24年3月
- 透過光量測定装置を開発
- 平成25年5月
- 光沢度検査装置を開発
- 平成28年8月
- 八王子市南大沢に移転
- 平成28年11月
- 画像検査システム「ＣＬＩＰ」 開発、販売
- 平成29年7月
- 超精細度画像検査システム「ＣＬＩＰ ＭＩＣＲＯ」開発、販売
- 平成30年10月
- 特許取得 ＣＬＩＰシステム
- 令和1年11月
- 画像検査システム「CLIP ＭＵＬＴＩ」 「CLIP ＣＯＭＰＡＣＴ」開発、販売
